בדיקת MEMS ורכיבים מיניאטוריים

NorCom 2020-WL

בדיקת דליפה אופטית בלחץ –  אינה רגישה לבעיות ספיגת גז ואינה דורשת הפצצת לחץ ממושכת בהליום כמו בשיטת fine leak (mass spectroscopy).

מסוגלת לבדוק עד 1,000 רכיבים בכל מחזור.

בדיקת דליפות גסות ודקות בו זמנית תוך פסילת היישומים הדולפים.

קלה להתקנה ושימוש, ניתנת לחיבור למערכת SPC ברשת למעקב אחר תוצאות הבדיקה.

תוצאות בדיקת ביחידות  cc-atm/second helium.

עוד בקטגורייה

צרו
קשר

נשמח לעזור בכל שאלה